Un microscopio de fuerza atómica proporciona una visión más detallada de los átomos individuales

Yoshiaki Sugimoto y sus colegas, de la Universidad de Osaka, han "descubierto la manera de utilizar un microscopio de fuerza atómica para producir imágenes que revelan la identidad química de los átomos individuales de una superficie".

Básicamente, este nuevo descubrimiento permite a los científicos observar un material mezclado y "distinguir los átomos individuales de los diferentes elementos de su superficie, como estaño o silicio". Los microscopios en sí son bastante frecuentes en este reino, pero hasta ahora, no habían sido capaces de distinguir entre átomos de diferentes elementos químicos. La huella atómica, cuyo nombre es muy acertado, es lo que examinó el equipo para distinguir entre distintos átomos de una superficie de muestra, al ser testigos de que la relación entre fuerza y distancia es "ligeramente diferente en átomos de distintos elementos".

Fuente: Engadget

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Microscopio de campo próximo fluorescente

La idea de la microscopía de campo próximo es ofrecer una técnica que permita medir y manipular estructuras extremadamente pequeñas (a nivel de nanómetros). Sin embargo, la mejor resolución que se ha logrado es de 20 nanómetros. Por ahora.

“Hemos sido capaces de trabajar con moléculas que, por separado, contaban tan solo 15 nanómetros”, señala Stephen Quake para PhysOrg.com. Quake y su grupo, del Instituto Tecnológico de California, en Pasadena, han creado un microscopio de campo próximo fluorescente capaz de distinguir moléculas individuales. Los resultados se han publicado en un artículo titulado “Fluorescence Near-Field Microscopy of DNA at Sub-10 nm Resolution” en la revista Physical Review Letters.

“Los microscopios de luz convencionales utilizan lentes, por lo que sus propiedades de formación de imágenes se ven limitadas por las propiedades de las lentes”, explica Quake. “La limitación principal es la longitud de onda de la luz. Pero durante los últimos 20 años, la microscopía de campo próximo ha proporcionado modos de mirar los objetos sin estar limitados por la longitud de onda de la luz. Para la mayor parte, esto supone entre dos y cuatro veces mejor que el límite de difracción”.


Fuente: Physorg

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Microcopio que produce nano imágenes en 3D

Nanocientíficos estadounidenses afirman haber desarrollado un microscopio de rayos X que puede producir imágenes de nanomateriales en tres dimensiones.

Según el Prof. Subhash Risbud, de la Universidad de California-Davis, John Miao, de UCLA y sus colegas de Japón y Taiwan, el dispositivo se podría utilizar para elaborar materiales mejores e campos como la electrónica, la óptica o la biotecnología.

El microscopio electrónico de transmisión (TEM) se ha utilizado, tradicionalmente, para estudiar los nanomateriales. Sin embargo, dado que los electrones no penetran en profundidad en los materiales, el proceso de preparación de la muestra suele ser complicado y destructivo. Además, el TEM sólo produce imágenes en dos dimensiones.

Los científicos señalan que su nuevo método centra una potente fuente de rayos X en una nanopartícula y recoge los rayos X dispersos de la muestra. A continuación, unos ordenadores construyen una imagen tridimensional a partir de los datos. El microscopio puede obtener detalles de hasta 17 nanómetros o un par de átomos de ancho.

Fuente: Science Daily

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Nuevas técnicas de microscopio con rayos x

Rompen la barrera del nanómetro en la microscopía de rayos X.

Científicos del Argonne National Laboratory en colabolación con Xradia han creado una nueva técnica de microscopía de rayos X capaz de observar características a escala molecular, de menos de un nanómetro de alto. Combinando la reflexión de los rayos X junto con una microscopía de rayos X de alta resolución, los científicos pueden estudiar ahora interacciones a escala nanométrica que a menudo muestran diferentes propiedades y conducen a nuevos descubrimientos. Mejorar nuestra comprensión de las interacciones a nanoescala puede ayudarnos a curar enfermedades, proteger el medioambiente y proporcionarnos seguridad.

Esta técnica novedosa conducirá a un mejor conocimiento de las reacciones interfaciales en superficies, como la adsorción de iones y las reacciones catalíticas y de corrosión. En concreto, este método amplía la capacidad de la microscopía de rayos X para observar, directamente y en tiempo real, características interfaciales de tamaño por debajo del nanómetro. Este enfoque no invasivo complementa las microscopías de sonda de barrido utilizadas con mayor frecuencia y puede formar la imagen topográfica de una superficie sólida sin utilizar puntas de sonda cerca de la superficie.

Fuente: Eurekalert

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