Nuevas técnicas de microscopio con rayos x
Rompen la barrera del nanómetro en la microscopía de rayos X.
Científicos del Argonne National Laboratory en colabolación con Xradia han creado una nueva técnica de microscopía de rayos X capaz de observar características a escala molecular, de menos de un nanómetro de alto. Combinando la reflexión de los rayos X junto con una microscopía de rayos X de alta resolución, los científicos pueden estudiar ahora interacciones a escala nanométrica que a menudo muestran diferentes propiedades y conducen a nuevos descubrimientos. Mejorar nuestra comprensión de las interacciones a nanoescala puede ayudarnos a curar enfermedades, proteger el medioambiente y proporcionarnos seguridad.
Esta técnica novedosa conducirá a un mejor conocimiento de las reacciones interfaciales en superficies, como la adsorción de iones y las reacciones catalíticas y de corrosión. En concreto, este método amplía la capacidad de la microscopía de rayos X para observar, directamente y en tiempo real, características interfaciales de tamaño por debajo del nanómetro. Este enfoque no invasivo complementa las microscopías de sonda de barrido utilizadas con mayor frecuencia y puede formar la imagen topográfica de una superficie sólida sin utilizar puntas de sonda cerca de la superficie.
Fuente: Eurekalert
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Científicos del Argonne National Laboratory en colabolación con Xradia han creado una nueva técnica de microscopía de rayos X capaz de observar características a escala molecular, de menos de un nanómetro de alto. Combinando la reflexión de los rayos X junto con una microscopía de rayos X de alta resolución, los científicos pueden estudiar ahora interacciones a escala nanométrica que a menudo muestran diferentes propiedades y conducen a nuevos descubrimientos. Mejorar nuestra comprensión de las interacciones a nanoescala puede ayudarnos a curar enfermedades, proteger el medioambiente y proporcionarnos seguridad.
Esta técnica novedosa conducirá a un mejor conocimiento de las reacciones interfaciales en superficies, como la adsorción de iones y las reacciones catalíticas y de corrosión. En concreto, este método amplía la capacidad de la microscopía de rayos X para observar, directamente y en tiempo real, características interfaciales de tamaño por debajo del nanómetro. Este enfoque no invasivo complementa las microscopías de sonda de barrido utilizadas con mayor frecuencia y puede formar la imagen topográfica de una superficie sólida sin utilizar puntas de sonda cerca de la superficie.
Fuente: Eurekalert
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Etiquetas: imagenes, microscopios
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